感謝您對HIWIN MIKROSYSTEM CORP.產品的愛護與支持，為提供產品更好的服務品質，
進行部份規格外觀變更如下。

• 變更產品 : 絕對式位置量測系統
• 變更規格 : APM 系列讀頭
• 變更內容 : APM 外殼表面處理變更，此變更為外觀的優化，不影響產品功能、規格與品質。

更新前	更新後

變更日期 :  2025年12月31日
大銀微系統敬啟